- 熱電偶
 - COD檢測(cè)儀
 - 溫度變送器
 - 雙金屬溫度計(jì)
		     
 - 熱電阻
 - 聲光電報(bào)警器
 - 上海減壓器廠減壓器
 - 振蕩器
		     
 - 干燥箱
 - 培養(yǎng)箱
		     
 - 凈化工作臺(tái)/安全柜
		     
 - 水浴鍋/水溫箱/低溫水槽
 - 滅菌器
		     
 - 蒸餾水器
		     
 - 儀器儀表
		     
- 探頭
 - 流量計(jì)
 - 一氧化碳檢測(cè)儀
 - 紅外熱成像儀
 - 頻譜分析儀
 - 直流穩(wěn)定電源
 - 高斯計(jì)
 - 標(biāo)準(zhǔn)通用型磁通門計(jì)
 - 電流探頭
 - 計(jì)數(shù)器
 - 電阻測(cè)試儀
 - 電橋
 - 磁場(chǎng)處理電磁鐵
 - 波形發(fā)生器
 - 電磁波測(cè)試計(jì)
 - 數(shù)控恒流源
 - 功率放大器
 - 半導(dǎo)體管特性圖示儀
 - 標(biāo)準(zhǔn)電池
 - 雙填充柱進(jìn)樣器+雙氫火焰檢測(cè)器
 - 雙填充柱進(jìn)樣器+熱導(dǎo)檢測(cè)器
 - 毛細(xì)管柱進(jìn)樣器+熱導(dǎo)檢測(cè)器
 - 智能崩解儀
 - 電表
 - 全自動(dòng)部份收集器
 - 全自動(dòng)試驗(yàn)支架
 - 粉塵儀
 - 高功能數(shù)顯測(cè)力儀
 - 經(jīng)濟(jì)型數(shù)顯測(cè)力儀
 - 檢測(cè)器
 - 比色計(jì)
 - 張力儀
 - 分流器
 - 氣候箱
 - 攪拌機(jī)
 - 搖床
 - 紫外分析儀
 - 閃點(diǎn)和燃點(diǎn)試驗(yàn)器
 - 電位差計(jì)
 - 交/直流標(biāo)準(zhǔn)電阻箱
 - 指針式直流檢流計(jì)
 - 除濕機(jī)
 - 電流互感器
 - 超聲波清洗器
 - 溫度記錄儀
 - 藥物溶出儀
 - 采樣器
 - 紫外可見分光光度計(jì)
 - 數(shù)顯高速分散均質(zhì)機(jī)
 - 箱式電阻爐
 - 片劑脆碎度測(cè)定儀
 - 智能溶出試驗(yàn)儀
 - 密度計(jì)
 - 邏輯分析儀
 - 光度計(jì)
 - 澄明度檢測(cè)儀
 - 小型包衣機(jī)
 - 恒流泵
 - 消毒箱
 - 恒溫恒濕箱
 - 鉗表
 - 智能片劑硬度儀
 - 熔點(diǎn)儀
 - 電磁閥
 - 智能微粒檢測(cè)儀
 - 電子天平
 - 旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)器
 - 測(cè)定儀
 - 試驗(yàn)箱
 - 高靈敏度熱導(dǎo)檢測(cè)器
 - 萬(wàn)用表
 - 氣相色譜儀
 - 氮磷檢測(cè)器
 - 油壓緩沖器
 - 電弧發(fā)生器
 - 熒光分光光度計(jì)
 - 信號(hào)分析儀
 - 看譜鏡
 - 氣體檢測(cè)儀
 - 信號(hào)發(fā)生器
 - 功率計(jì)
 - 壓力表
 - 普朗克常數(shù)
 - 攪拌器
 - 扭矩儀
 - 鋁盒
 - 可見分光光度計(jì)
 - 電力測(cè)試儀
 - 自動(dòng)液相色譜分離層析儀
 - 有源探頭
 - 差分探頭
 - 無(wú)源電壓探頭
 - 熱電阻模擬器
 - 風(fēng)淋室
 - 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
 - 數(shù)顯推拉計(jì)
 - 毫伏表
 - 數(shù)字微歐計(jì)
 - 交直流鉤表
 - 直流電阻箱
 - 水分測(cè)定儀
 - 雙層玻璃反應(yīng)器
 - 溶出度測(cè)試儀
 - 聲級(jí)計(jì)/噪音計(jì)
 - 超聲波探傷儀
 - 轉(zhuǎn)速表/頻閃儀
 - 粘度計(jì)
 - 分析天平
 - 粗糙度儀
 - 風(fēng)速儀表計(jì)|風(fēng)溫|風(fēng)量|葉輪|熱敏
 - 示波器
 - 里氏硬度計(jì)/邵氏硬度計(jì)/洛氏硬度計(jì)
 - 溫度表
 - 紅外線測(cè)溫儀
 - 測(cè)厚儀
 - 測(cè)振儀
 - 金屬探測(cè)器
 
 - 開關(guān)
 - 控制器
 - 低壓電器
 - 跑偏開關(guān)
 - 拉繩開關(guān)
 - 光控開關(guān)
		     
 - 時(shí)控開關(guān)
		     
 - 塑殼斷路器
 - 磁力起動(dòng)器
		     
 - 繼電器
		     
 - 接觸器
		     
 - 光纖傳感器
		     
 - 色標(biāo)傳感器
		     
 - 位移傳感器
		     
 - 光電傳感器
		     
 - 光電開關(guān)
		     
 - 接近開關(guān)
 - 氣源處理器
 - 磁性開關(guān)
		     
 - 無(wú)線電監(jiān)測(cè)接收機(jī)
 - 阻旋式料位控制器
		     
 - 噪聲信號(hào)發(fā)生器
		     
 
原子吸收分光光度計(jì)的干擾及消除方法
原子吸收分光光度計(jì)的干擾及消除方法
?。?)物理干擾物理干擾是指試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)過程中任何物理因素變化而引起的干擾效應(yīng)。屬于這類干擾的因素有:試液的粘度、溶劑的蒸汽壓、霧化氣體的壓力等。物理干擾是非選擇性干擾,對(duì)試樣各元素的影響基本是相似的。 配制與被測(cè)試樣相似的標(biāo)準(zhǔn)樣品,是消除物理干擾的常用的方法。在不知道試樣組成或無(wú)法匹配試樣時(shí),可采用標(biāo)準(zhǔn)加入法或稀釋法來減小和消除物理干擾。
?。?)化學(xué)干擾化學(xué)干擾是指待測(cè)元素與其它組分之間的化學(xué)作用所引起的干擾效應(yīng),它主要影響待測(cè)元素的原子化效率,是原子吸收分光光度法中的主要干擾來源。它是由于液相或氣相中被測(cè)元素的原子與干擾物質(zhì)組成之間形成熱力學(xué)更穩(wěn)定的化合物,從而影響被測(cè)元素化合物的解離及其原子化。 消除化學(xué)干擾的方法有:化學(xué)分離;使用高溫火焰;加入釋放劑和保護(hù)劑;使用基體改進(jìn)劑等。
?。?)電離干擾在高溫下原子電離,使基態(tài)原子的濃度減少,引起原子吸收信號(hào)降低,此種干擾稱為電離干擾。電離效應(yīng)隨溫度升高、電離平衡常數(shù)增大而增大,隨被測(cè)元素濃度增高而減小。加入更易電離的堿金屬元素,可以有效地消除電離干擾。
?。?)光譜干擾光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在非吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當(dāng)采用銳線光源和交流調(diào)制技術(shù)時(shí),前3種因素一般可以不予考慮,主要考慮分子吸收和光散射地影響,它們是形成光譜背景的主要因素。
?。?)原子吸收分光光度計(jì)分子吸收干擾分子吸收干擾是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物及鹽類分子對(duì)輻射吸收而引起的干擾。光散射是指在原子化過程中產(chǎn)生的固體微粒對(duì)光產(chǎn)生散射,使被散射的光偏離光路而不為檢測(cè)器所檢測(cè),導(dǎo)致吸光度值偏高。






  在線客服